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题名:
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材料电子及中子分析技术 / 朱和国, 黄鸣主编 , |
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ISBN:
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978-7-121-44710-5 价格： CNY69.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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350页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2022 |
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内容提要:
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本书首先介绍了晶体学基础、电子衍射的物理基础、衍射成像、衬度理论、高分辨成像、复杂电子衍射花样、原位透射电子显微分析技术、透射电子显微镜、扫描电镜、电子探针、电子背散射衍射的原理与应用；然后介绍了用于表面分析的俄歇电子能谱、扫描隧道显微镜、扫描透射电子显微镜、低能电子衍射、反射高能电子衍射及与透射电镜或扫描透射电镜结合使用的电子能量损失谱等的原理及其应用；最后介绍了原子探针和中子分析技术。 |
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主题词:
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材料 电子 |
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主题词:
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材料 中子 |
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中图分类法:
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TB3 版次： 5 |
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主要责任者:
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朱和国 主编 |
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主要责任者:
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黄鸣 主编 |