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题名:
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集成电路测试技术 / 武乾文主编 , |
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ISBN:
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978-7-121-44351-0 价格： CNY128.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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xvii, 329页 图 25cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2022 |
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内容提要:
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本书共分10章，内容包括：集成电路测试概述、数字集成电路测试技术、模拟集成电路测试技术、数模混合集成电路测试技术、射频电路测试技术、SoC及其他典型电路测试技术、集成电路设计与测试的链接技术、测试接口板设计技术、集成电路测试设备、智能测试。 |
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主题词:
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集成电路 电路测试 |
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中图分类法:
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TN407 版次： 5 |
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主要责任者:
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武乾文 主编 |
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附注:
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工信学术出版基金 集成电路产业知识赋能工程 |