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题名:
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电子元器件可靠性技术基础 / 付桂翠, 万博, 张素娟, 高成编著 , |
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ISBN:
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978-7-5124-3714-2 价格： CNY55.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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268页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 北京航空航天大学出版社 出版日期： 2022 |
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内容提要:
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本书在原版教材的基础上，增加了元器件可靠性概述，可靠性试验，以及基于失效物理的电子元器件可靠性评价等章节，介绍了电子元器件可靠性领域的新技术，新方法，具有较强的理论性和工程实用性。 |
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主题词:
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电子元件 可靠性 |
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中图分类法:
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TN6 版次： 5 |
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主要责任者:
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付桂翠 编著 |
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主要责任者:
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万博 编著 |
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主要责任者:
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张素娟 编著 |
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版次:
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2版 |