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题名:
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半导体器件电离辐射总剂量效应 / 陈伟, 何宝平, 姚志斌, 马武英编著 , |
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ISBN:
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978-7-03-070039-1 价格： CNY135.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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226页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2022 |
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内容提要:
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本书主要介绍电离辐射环境与效应、体硅CMOS工艺器件和SOI 工艺器件电离总剂量效应、双极工艺器件低剂量率辐射损伤增强效应、总剂量效应数值模拟和试验方法、总剂量效应预估模型与方法、纳米器件总剂量效应与可靠性、系统级总剂量效应模拟试验方法等内容。 |
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主题词:
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半导体器件 电离辐射 |
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中图分类法:
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TN303 版次： 5 |
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主要责任者:
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陈伟 编著 |
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主要责任者:
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何宝平 编著 |
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主要责任者:
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姚志斌 编著 |