题名:
颗粒表征的光学技术及应用   / 许人良著 ,
ISBN:
978-7-122-41269-0 价格： CNY168.00
语种:
chi
载体形态:
412页 图 25cm
出版发行:
出版地： 北京 出版社： 化学工业出版社 出版日期： 2022
内容提要:
本书系统总结了颗粒测量的基本原理和各种表征方法, 包括光散射技术, 以及光学计数法、激光粒度法、光学图像分析法、颗粒跟踪分析法、动态光散射法和电泳光散射法等, 涵盖了近年来的技术发展以及市场上新型的仪器产品, 对每种技术相关的仪器构造与使用、数据采集与结果分析进行了详细说明。关于颗粒表征的标准化也进行了专门的介绍。 
主题词:
颗粒   测量
中图分类法:
O572.21 版次： 5
主要责任者:
许人良 著
责任者附注:
许人良, 1972年中学毕业后即进入颗粒分析测试行业。1982年毕业于复旦大学, 之后前往美国留学, 获得硕士、博士与工商管理硕士学位。