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题名:
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IC芯片设计中的静态时序分析实践 / (美) J. 巴斯卡尔, 拉凯什·查达著 , 刘斐然译 |
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ISBN:
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978-7-111-70686-1 价格： CNY135.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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XIV, 346页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2022 |
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内容提要:
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本书深度介绍了芯片设计中用静态时序分析进行时序验证的基本知识和应用方法, 涉及包括互连线模型、时序计算和串扰等在内的影响纳米级电路设计的时序的重要问题, 并详细解释了在不同工艺、环境、互连工艺角和片上变化(OCV)下进行时序检查的方法, 同时详细介绍了层次化块(Block)、全芯片及特殊IO接口的时序验证, 并提供了SDC、SDF及SPEF格式的完整介绍。 |
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主题词:
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IC卡 芯片 |
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中图分类法:
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TN430.2 版次： 5 |
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主要责任者:
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巴斯卡尔 著 |
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主要责任者:
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查达 著 |
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次要责任者:
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刘斐然 译 |
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附注:
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机工电子 |