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题名:
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坐标测量技术 / (德) 阿尔伯特·韦克曼等著 , 张为民等译 |
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ISBN:
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978-7-111-69375-8 价格： CNY128.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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xv, 322页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2022 |
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内容提要:
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本书详细介绍了在生产及与之相关的工具几何元素的测量技术, 包括几何元素范围、测量速度、表面区域的计算以及结果测量误差理解诸方面。本书在几何产品技术规范中, 对工具的形状, 尺寸及表面特征进行了定义与全面统一的说明。本书在保留了第一版中基本论述的基础上, 又补充了一些新的主题, 如在坐标测量技术中使用传感器技术及其他新开发的仪器技术 (如激光跟踪仪、计算机断层扫描、以及多重探测测量技术等) 。另外还增加了坐标测量技术中的培训草案章节。 |
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主题词:
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坐标测量法 |
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中图分类法:
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P213 版次： 5 |
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主要责任者:
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韦克曼 著 |
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次要责任者:
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张为民 译 |