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题名:
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可靠性分析的计数过程 / (韩) 金焕查, (俄) 马克西姆·芬克尔斯坦著 , 李军亮, 张勇译 |
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ISBN:
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978-7-118-12561-0 价格： CNY169.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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312页 图 25cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2022 |
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内容提要:
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本书以点过程的理论和应用为重点, 介绍了泊松过程、更新过程以及非齐次泊松等随机过程在可靠性分析中应用和发展, 针对随机过程模型在描述系统受外部环境“冲击”的模型假设过于苛刻, 不能完全吻合工程实践的需求的情况, 介绍并引入了广义聚合过程, 构建了不同维修策略下的单元、双变量、多元聚合过程模型, 并举例说明其在工程中的应用, 拓展了和丰富了随机过程在可靠性领域的应用。 |
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主题词:
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系统可靠性 研究 |
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中图分类法:
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N945.17 版次： 5 |
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其它题名:
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冲击和可修系统 |
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主要责任者:
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金焕查 著 |
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主要责任者:
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芬克尔斯坦 著 |
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次要责任者:
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李军亮 译 |
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次要责任者:
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张勇 译 |
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附注:
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装备科技译著出版基金 |