题名:
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高速数字接口与光电测试 / 李凯著 , |
ISBN:
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978-7-302-59040-8 价格: CNY178.00 |
语种:
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chi |
载体形态:
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425页 图 26cm |
出版发行:
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出版地: 北京 出版社: 清华大学出版社 出版日期: 2022 |
内容提要:
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本书结合笔者多年从业经验, 从产业技术发展的角度对高速数字信号与光电互联的基本概念、关键技术进行生动讲解, 同时结合现代计算机、移动终端、AI计算、数据中心、电信网络中最新的接口技术, 对其标准演变、测试方法等做了详细介绍, 以便于读者理解和掌握高速数字与光电互联的基本原理、实现技术、测试理念及其发展趋势。 |
主题词:
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数字接口 接口技术 |
主题词:
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光电检测 测试技术 |
中图分类法:
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TN919.5 版次: 5 |
中图分类法:
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TN206 版次: 5 |
主要责任者:
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李凯 著 |
责任者附注:
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李凯, 资深技术顾问与高速测试技术专家。 |