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题名:
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公差配合与技术测量 [ 专著] / 张静，张朋，方春慧主编 , |
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ISBN:
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978-7-5682-8717-3 价格： CNY59.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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189页 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 北京理工大学出版社有限责任公司 出版日期： 2020 |
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内容提要:
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本书系统地介绍了公差配合与技术测量方面的基础知识，全书共分6个项目，并以情境任务的形式进行讲解，主要内容包括：绪论、公差与配合、测量技术基础与光滑尺寸检测、几何公差及检测、表面粗糙度的检测、常用结构件的公差配合与检测。 |
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主题词:
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公差 配合 |
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主题词:
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技术测量 |
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中图分类法:
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TG801 版次： 5 |
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主要责任者:
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张静 主编 |
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主要责任者:
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张朋 主编 |
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主要责任者:
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方春慧 主编 |