题名:
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短波红外InGaAs探测器辐照特性研究 / 黄星著 , |
ISBN:
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978-7-5676-4607-0 价格: CNY23.50 |
语种:
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chi |
载体形态:
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106页 图 24cm |
出版发行:
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出版地: 芜湖 出版社: 安徽师范大学出版社 出版日期: 2020 |
内容提要:
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本书围绕短波红外InGaAs探测器的航天遥感应用, 采用微波反射法提取了InGaAs吸收层的少子寿命, 研究了不同钝化方法的短波红外InGaAs探测器的低频噪声, 并利用g-r噪声的温度特性提取了PECVD钝化器件的缺陷能级, 为短波红外InGaAs探测器在太空质子、电子和γ射线等辐照下正常工作提供保障。 |
主题词:
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红外探测器 辐射 |
中图分类法:
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TN215 版次: 5 |
主要责任者:
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黄星 著 |
责任者附注:
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黄星, 安庆师范大学物理与电气工程学院讲师。 |