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题名:
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X射线检测关键技术与应用研究 / 方正编著 , |
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ISBN:
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978-7-5615-8068-4 价格： CNY68.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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329页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 厦门 出版社： 厦门大学出版社 出版日期： 2021 |
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内容提要:
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本书系统地介绍了X射线检测和CT重建方面的理论知识及应用实例。本书从X射线的基础理论知识开始, 介绍了X射线检测的物理学基础。对射线检测各种方法进行了较为全面的描述, 包括常规的X射线成像、射线光谱检测、CT重建等, 还涉及前沿的吸收光谱检测、光/能谱CT、发射型计算机断层成像等领域。通读全书能系统地了解该领域的基础理论, 把握良好的知识体系框架, 有利于读者客观全面地分析和解决实际问题。 |
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主题词:
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X射线 射线检验 |
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中图分类法:
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TB302.5 版次： 5 |
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主要责任者:
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方正 编著 |