|
题名:
|
纳米级系统芯片单粒子效应研究 / 贺朝会 ... [等] 著 , |
|
ISBN:
|
978-7-03-067328-2 价格： CNY98.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
191页 图 24cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2021 |
|
内容提要:
|
本书主要介绍了28nm系统芯片的单粒子效应, 主要包括国内外研究现状, SoC单粒子效应测试系统的建立, α粒子、重离子、质子和中子单粒子效应实验研究, SoC单粒子效应软件故障注入、模拟故障注入、软错误故障分析、故障诊断和SoC抗单粒子效应加固方法研究。期望为国产纳米级SoC的研发和空间应用提供技术参考。 |
|
主题词:
|
集成芯片 单粒子态 |
|
中图分类法:
|
TN430.3 版次： 5 |
|
主要责任者:
|
贺朝会 著 |
|
主要责任者:
|
杜雪成 著 |
|
主要责任者:
|
杨卫涛 著 |
|
主要责任者:
|
杜小智 著 |