题名:
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光学系统像质评价与检测 / 李林, 林家明著 , |
ISBN:
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978-7-5682-8946-7 价格: CNY68.00 |
语种:
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chi |
载体形态:
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194页 图 24cm |
出版发行:
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出版地: 北京 出版社: 北京理工大学出版社 出版日期: 2020 |
内容提要:
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本书系统地介绍了光学系统像质评价方法以及光学测量的主要知识。全书内容可以分为两个部分:第一部分是光学系统像质评价,介绍了光学系统的像质评价各种指标以及在光学设计软件Zemax中的具体应用;第二部分是光学测量,介绍了光学测量中的对准与调焦技术、焦距测量、星点检验、分辨率测量等基本光学测量技术,测角技术、准直自准直技术及干涉测量等内容。 |
主题词:
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光学系统 成象 |
中图分类法:
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O43 版次: 5 |
主要责任者:
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李林 著 |
主要责任者:
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林家明 著 |
附注:
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“十三五”国家重点出版物出版规划项目 国之重器出版工程 国防现代化建设 |
责任者附注:
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李林,男,北京理工大学教授,博士生导师。主要研究方向为光学系统设计、光电仪器设计、红外仿真、空间光学与照明光学。 |