|
题名:
|
航天电子系统最坏情况电路分析技术 / 任立明 ... [等] 著 , |
|
ISBN:
|
978-7-5159-1742-9 价格： CNY58.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
xiii, 146页 图 27cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 中国宇航出版社 出版日期： 2019 |
|
主题词:
|
航天器可靠性 电路分析 |
|
中图分类法:
|
V417 版次： 5 |
|
主要责任者:
|
任立明 著 |