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题名:
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纳米CMOS器件及电路的辐射效应 / 刘保军, 刘小强, 刘忠永著 , |
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ISBN:
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978-7-121-40841-0 价格： CNY79.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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253页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2021 |
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内容提要:
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本书主要介绍辐射效应对纳米CMOS器件及其电路的影响，涵盖了各种辐射环境分析、电离损伤机理研究、纳米器件的总剂量效应和单粒子效应的建模仿真、辐射效应对纳米CMOS电路的影响等内容，综合考虑了器件特征尺寸缩减对辐射效应的影响，给出了纳电子器件及其电路的辐射效应的分析方法和思路。 |
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主题词:
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半导体器件 纳米材料 |
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中图分类法:
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TN303 版次： 5 |
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主要责任者:
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刘保军, 著 |
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主要责任者:
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刘小强 著 |
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主要责任者:
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刘忠永 著 |