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题名:
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纳米压痕技术检测残余应力 / 王海斗, 朱丽娜, 徐滨士编著 , |
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ISBN:
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978-7-03-048781-0 价格： CNY88.00 |
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ISBN:
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978-7-03-048781-0 价格： CNY75.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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196页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2016.06 |
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内容提要:
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本书共分五章, 系统介绍了残余应力的形成机理及其对表面性能的影响, 系统归纳了传统的残余应力测量技术的原理及缺陷。本书重点介绍了先进的纳米压痕测量技术, 深入阐述了不同计算模型的测量原理、适用范围及缺陷, 并系统总结了不同模型在残余应力测量中的实际应用。所取材料主要是来自作者近年来的最新研究成果以及该领域同行学者的重要研究内容。 |
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主题词:
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压痕 纳米技术 |
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中图分类法:
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TB303.2 版次： 5 |
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主要责任者:
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王海斗 编著 |
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主要责任者:
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朱丽娜 编著 |
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主要责任者:
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徐滨士 编著 |
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索书号:
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3 |