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题名:
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现代VLSI器件基础 / (美) 陶元, 甯德雄著 , 黄如 ... [等] 译 |
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ISBN:
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978-7-121-38073-0 价格： CNY128.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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XXIII, 484页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2020 |
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内容提要:
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本书旨在深度剖析影响现代VLSI器件性能的主要因素。本书首先分析了VLSI器件的基本器件物理, 这对于单个器件的参数设计是非常有帮助的 ; 然后本书从基础电路层面分析了器件参数对现代小尺寸VLSI器件性能的影响。 |
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主题词:
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VLSI芯片 电路设计 |
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中图分类法:
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TN470.2 版次： 5 |
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主要责任者:
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陶元 著 |
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主要责任者:
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甯德雄 著 |
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次要责任者:
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黄如 译 |
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索书号:
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3 |