题名:
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IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测 / 肖飞 ... [等] 编著 , |
ISBN:
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978-7-111-63407-2 价格: CNY59.00 |
语种:
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chi |
载体形态:
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232页 图 24cm |
出版发行:
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出版地: 北京 出版社: 机械工业出版社 出版日期: 2019 |
内容提要:
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本书通过详细分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理,在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上,通过将理论分析与解析描述相结合,建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法,对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。 |
主题词:
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绝缘栅场效应晶体管 疲劳机理 |
中图分类法:
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TN386.2 版次: 5 |
主要责任者:
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肖飞 编著 |
主要责任者:
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刘宾礼 编著 |
主要责任者:
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罗毅飞 编著 |
索书号:
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3 |