题名:
IGBT疲劳失效机理及其健康状态监测   / 肖飞 ... [等] 编著 ,
ISBN:
978-7-111-63407-2 价格: CNY59.00
语种:
chi
载体形态:
232页 图 24cm
出版发行:
出版地: 北京 出版社: 机械工业出版社 出版日期: 2019
内容提要:
本书通过详细分析IGBT芯片与封装疲劳失效机理,在研究失效特征量随疲劳老化时间变化规律的基础之上,通过将理论分析与解析描述相结合,建立了IGBT相关电气特征量的健康状态监测方法,对处于不同寿命阶段的IGBT器件健康状态进行有效评估。 
主题词:
绝缘栅场效应晶体管   疲劳机理
中图分类法:
TN386.2 版次: 5
主要责任者:
肖飞 编著
主要责任者:
刘宾礼 编著
主要责任者:
罗毅飞 编著
索书号:
3