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题名:
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计量与测试专利文摘.下册 / 上海科学技术情报研究所编 , |
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ISBN:
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价格： 2.32 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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216 26cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术文献出版社 出版日期： 1984 |
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中图分类法:
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Z89:TB9 版次： |
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主要责任者:
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上海科学技术情报研究所编 |
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索书号:
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2 |