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题名:
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半导体器件的可靠性.第2集 / 中国科学技术情报研究所重庆分所编 , |
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ISBN:
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价格： 0.49 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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68 20cm |
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出版发行:
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出版地： 重庆 出版社： 科学技术文献出版社重庆分社 出版日期： 1976 |
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中图分类法:
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TN303 版次： |
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主要责任者:
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中国科学技术情报研究所重庆分所编 |
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索书号:
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10 |