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题名:
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纳米材料的X射线分析 / 程国峰, 杨传铮编著 , |
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ISBN:
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978-7-122-33416-9 价格： CNY88.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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351页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 化学工业出版社 出版日期： 2019 |
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内容提要:
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本书主要介绍利用X射线等激发样品从而表征材料结构, 特别是纳米材料晶体结构相关信息的专著。考虑到纳米材料的特殊性, 本书分为三个部分: 晶体学基础、X射线衍射理论基础、X射线实验装置和方法等四章为基础部分; 中间部分是X射线衍射分析方法和应用, 包括物相定性和定量、晶体学参数测定、纳米材料微结构的衍射线形分析、Rietveld结构精修和小角散射等; 最后介绍了化学组成和原子价态、纳米薄膜和介孔材料等的X射线分析。 |
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主题词:
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纳米材料 X射线 |
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中图分类法:
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TB383 版次： 5 |
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主要责任者:
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程国峰 编著 |
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主要责任者:
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杨传铮 编著 |
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版次:
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2版 |
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索书号:
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3 |
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索书号:
|
3 |