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题名:
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微波器件电磁损伤规律研究 / 谭志良 ... [等] 著 , |
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ISBN:
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978-7-03-059112-8 价格： CNY88.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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210页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2018 |
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内容提要:
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本书由浅入深、系统地介绍了几种常用的微波半导体器件的电磁损伤机理。首先介绍了几种微波半导体器件基础知识和典型的电磁脉冲及其效应，然后重点通过仿真分析和实验分析介绍了几种微波半导体器件的电磁损伤机理，最后简要介绍了几种半导体器件电磁损伤模型。 |
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主题词:
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微波半导体器件 研究 |
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中图分类法:
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TN385 版次： 5 |
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主要责任者:
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谭志良 著 |
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索书号:
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3 |
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索书号:
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3 |