|
题名:
|
数字电路老化预测与容忍 / 徐辉著 , |
|
ISBN:
|
978-7-312-04359-8 价格： CNY30.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
123页 图 24cm |
|
出版发行:
|
出版地： 合肥 出版社： 中国科学技术大学出版社 出版日期： 2018 |
|
内容提要:
|
本书包括引言; 集成电路老化的相关研究; 低开销的信号违规检测结构; 基于对称或非门的老化预测/检测改进方案; 容忍老化的多米诺门; 低漏电流、抑制NBTI效应的多米诺电路等七章内容。 |
|
主题词:
|
数字集成电路 研究 |
|
中图分类法:
|
TN431.2 版次： 5 |
|
主要责任者:
|
徐辉 著 |
|
索书号:
|
3 |
|
索书号:
|
3 |