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题名:
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半导体器件可靠性与失效分析 / 卢其庆,张安康编 , |
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ISBN:
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价格： 1.70 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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278 20cm |
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出版发行:
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出版地： 南京 出版社： 江苏科学技术出版社 出版日期： 1981 |
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中图分类法:
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TN306-43 版次： |
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主要责任者:
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卢其庆,张安康编 |
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索书号:
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10 |