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题名:
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抗辐射设计与辐射效应 / 沈自才，丁义刚著 , |
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ISBN:
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978-7-5046-6738-0 价格： CNY102.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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343页 照片，图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 中国科学技术出版社 出版日期： 2015 |
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内容提要:
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本书从辐射环境、辐射效应、辐射损伤机制、辐照试验、辐射屏蔽、抗辐射设计方法、辐射加固保证等方面对抗辐射设计所涉及的内容进行阐述，对漆类材料、聚合物材料、光学材料、MOS工艺器件、二极管、双极晶体管、FPGA、CCD等典型材料与器件的辐射损伤机理和辐射效应数据进行梳理与总结。 |
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主题词:
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辐射防护 设计 |
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主题词:
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辐射效应 研究 |
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中图分类法:
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TL7 版次： 5 |
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主要责任者:
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沈自才 著 |
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主要责任者:
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丁义刚 著 |
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附注:
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中国科协三峡科技出版资助计划 |
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索书号:
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3 |
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索书号:
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3 |
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索书号:
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3 |
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索书号:
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索书号:
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