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题名:
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半导体中的氢
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崔树范著
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ISBN:
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978-7-03-056492-4
价格：
CNY68.00
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语种:
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chi
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载体形态:
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x, 132页
图
24cm
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出版发行:
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出版地：
北京
出版社：
科学出版社
出版日期：
2018
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内容提要:
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本书共分为半导体中氢的鉴别及氢致缺陷、半导体中氢的基本性质、半导体中氢的重要效应及相关应用三部分, 包括氢气区溶硅单晶中硅氢键的红外吸光谱、氢气区溶硅单晶中的氢致缺陷等15章内容。
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主题词:
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氢
半导体材料
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中图分类法:
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TN304.1
版次：
5
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主要责任者:
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崔树范
著
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索书号:
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4
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