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题名:
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化学键的弛豫 / 孙长庆,黄勇力,王艳著 , |
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ISBN:
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978-7-04-047750-4 价格： CNY179.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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xiii, 647页, [10] 页图版 图 (部分彩图) 25cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 高等教育出版社 出版日期： 2017 |
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内容提要:
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本书从成键与非键的形成、断裂、弛豫、振动以及相应的电子迁移、极化、局域化、致密化动力学角度出发, 旨在揭示固体表面化学吸附、异质界面、拓扑缺陷、低维结构等非常规配位体系的各种物理化学性能的微观起源及其在外场作用下的演化规律。着重介绍了键弛豫理论、电子能量局域钉扎极化理论、局域键平均近似原理和数值算法、计量谱学实验以及定量信息提取技术及其应用。 |
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主题词:
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化学键 弛豫 |
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中图分类法:
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O641.1 版次： 5 |
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中图分类法:
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O482.53 版次： 5 |
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主要责任者:
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孙长庆 著 |
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主要责任者:
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黄勇力 著 |
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主要责任者:
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王艳 著 |
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责任者附注:
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孙长庆, 辽宁建昌人, 澳大利亚默多克大学物理学博士, 英国物理学会和英国皇家化学学会高级会员。 |
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索书号:
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4 |