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题名:
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GD&T基础及应用 / 王廷强编著 , |
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ISBN:
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978-7-111-54292-6 价格： CNY69.90 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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193页 图 26cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2016 |
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内容提要:
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本书基于ASMEY14.5/ISO1101标准，对几何公差知识进行系统的介绍，书中引用了大量的应用实例，作为读者在几何公差应用中的参考。本书的内容侧重于应用，检测和检具的设计。检具的设计的关键工作在于计算，读者在设计检具或夹具时可以参考这些检具设计知识要点。 |
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主题词:
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形位公差 |
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中图分类法:
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TG801 版次： 5 |
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主要责任者:
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王廷强 编著 |
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版次:
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2版 |
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索书号:
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4 |