|
题名:
|
材料的透射电子显微学与衍射学 / (美) 布伦特·福尔兹, 詹姆斯·豪著 , 吴自勤 ... [等] 译 |
|
ISBN:
|
978-7-312-03749-8 价格： CNY99.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
xi, 57页 图 24cm |
|
出版发行:
|
出版地： 合肥 出版社： 中国科学技术大学出版社 出版日期： 2017 |
|
内容提要:
|
本书介绍了表征物质材料的透射型电子显微镜 (TEM) 和X-射线衍射 (XRD) 。与第三版相比, 这一版所有章节都进行了更新和修订, 并增加了与TEM有关的重要的新技术, 如纳米束衍射、电子断层扫描和几何相位分析技术。这本书解释了波与固体中原子相互作用的基本原理, 以及利用X-射线、电子、中子衍射测量的相似点和区别, 并对结晶序的衍射效应、缺陷和无序材料进行了详细解释。 |
|
主题词:
|
工程材料 透射电子显微术 |
|
主题词:
|
工程材料 X射线衍射 |
|
中图分类法:
|
TB302 版次： 5 |
|
主要责任者:
|
福尔兹 著 |
|
主要责任者:
|
豪 著 |
|
次要责任者:
|
吴自勤 译 |
|
附注:
|
“十三五”国家重点图书出版规划项目 |
|
索书号:
|
4 |