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题名:
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数字集成电路功耗与测试综合优化 / 孙强著 , |
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ISBN:
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978-7-302-45560-8 价格： CNY46.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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208页 23cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 清华大学出版社 出版日期： 2016 |
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内容提要:
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本书运用高层次综合与设计技术, 对数字集成电路的功耗与测试综合优化等课题进行深入研究, 介绍和提出了一些新的表示模型、设计方法和算法, 推动了数字集成电路可测性、低功耗及其相互协调等问题的解决。 |
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主题词:
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数字集成电路 研究 |
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中图分类法:
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TN431.2 版次： 5 |
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主要责任者:
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孙强 著 |
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索书号:
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4 |