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题名:
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分析晶体缺陷的电子显微术 / (美)洛雷托,斯莫尔曼著 , 康振川,王桂金译 |
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ISBN:
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价格： 0.46 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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111 20cm |
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出版发行:
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出版地： 上海 出版社： 上海科学技术出版社 出版日期： 1979 |
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中图分类法:
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O77 版次： |
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主要责任者:
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(美)洛雷托,斯莫尔曼著 |
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索书号:
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4 |