中图分类法:
O436.1 版次:
著者:
Servín, Manuel,
题名:
Fringe pattern analysis for optical metrology : [ theory, algorithms, and applications /] / ,
载体形态:
xvi, 327 pages : illustrations ; 25 cm.
主题词:
Interferometry.
主题词:
Optical measurements.
主题词:
Interferometry Mathematical models.
主题词:
Optical measurements Mathematical models.
主题词:
Diffraction patterns.
主题词:
Metrology.
主要责任者:
Quiroga, J. Antonio
主要责任者:
Padilla, J. Moisés
索书号:
1