中图分类法:
TN406 版次:
题名:
Reliability of MEMS : [ testing of materials and devices /] / ,
出版发行:
出版地: Weinheim : 出版社: Wiley-VCH, 出版日期: c2013.
载体形态:
xx, 303 p. : ill. ; 25 cm.
附注:
First edition 2007.
主题词:
Microelectromechanical systems Reliability.
主要责任者:
Tsuchiya, Toshiyuki.
主要责任者:
Tabata, Osamu,
索书号:
1