中图分类法:
|
TN406 版次: |
题名:
|
Reliability of MEMS : [ testing of materials and devices /] / , |
出版发行:
|
出版地: Weinheim : 出版社: Wiley-VCH, 出版日期: c2013. |
载体形态:
|
xx, 303 p. : ill. ; 25 cm. |
附注:
|
First edition 2007. |
主题词:
|
Microelectromechanical systems Reliability. |
主要责任者:
|
Tsuchiya, Toshiyuki. |
主要责任者:
|
Tabata, Osamu, |
索书号:
|
1 |