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题名:
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可靠性物理 / 工业和信息化部电子第五研究所组编 , 恩云飞, 谢少锋, 何小琦编著 |
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ISBN:
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978-7-121-27232-5 价格： CNY88.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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xvi, 426页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2015 |
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内容提要:
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本选题全面阐述了电子元器件可靠性物理的基本概念和元器件失效机理。全书共14章，前3章介绍可靠性物理基本理论、电子材料和应力、典型失效物理模型，后八章分别论述了微电子器件、光电子器件、高密度集成电路等11类典型元器件的工艺结构、失效机理及数理模型。 |
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主题词:
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电子元件 可靠性 |
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主题词:
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电子器件 可靠性 |
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中图分类法:
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TN6 版次： 5 |
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主要责任者:
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恩云飞 编著 |
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主要责任者:
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谢少锋 编著 |
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主要责任者:
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何小琦 编著 |
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主要团体责任者:
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工业和信息化部电子第五研究所 组编 |
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索书号:
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5 |