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题名:
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嵌入式系统可靠性设计技术及案例解析 / 武晔卿, 王广辉, 彭耀光编著 , |
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ISBN:
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978-7-5124-1894-3 价格： CNY39.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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243页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 北京航空航天大学出版社 出版日期： 2015 |
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内容提要:
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本书介绍了嵌入式系统设计中, 哪些地方最可能带来可靠性隐患, 以及从设计上如何进行预防。内容包括: 启动过程和稳态工作中的应力状态差别等可靠性基础知识及方法; 降额参数和降额因子的选择方法; 风扇和散热片的定量化计算选型和测试方法、结构和电路的热设计规范; PCB板布线布局、系统结构的电磁兼容措施; 电子产品制造过程中的失效因素 (包括EOS、ESD、MSD等) 及预防、检验方法; 可维修性设计规范、可用性设计规范、安全性设计规范、接口软件可靠性设计规范等方面的技术内容。 |
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主题词:
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微型计算机 系统设计 |
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中图分类法:
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TP360.21 版次： 5 |
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主要责任者:
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武晔卿 编著 |
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主要责任者:
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王广辉 编著 |
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主要责任者:
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彭耀光 编著 |
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版次:
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2版 |
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责任者附注:
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武晔卿, 工学硕士, 瑞迪航科 (北京) 技术有限公司技术总监, 专注于电子系统可靠性设计和测试技术。 |
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索书号:
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5 |