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题名:
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电子元器件失效分析技术 / 工业和信息化部电子第五研究所组编 , 恩云飞，来萍，李少平编著 |
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ISBN:
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978-7-121-27230-1 价格： CNY98.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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xix, 453页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2015 |
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内容提要:
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本书是工程应用类书,主要介绍电子元器件失效分析技术。从失效分析概论、失效分析技术、失效分析方法和程序以及失效预防几个方面的内容，使读者全面系统地掌握失效分析方面的基础理论、基本概念，技术和设备、方法和流程，指导开展相关的失效分析工作，并了解失效预防的一些基本方法和手段。 |
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主题词:
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电子元件 失效分析 |
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主题词:
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电子器件 失效分析 |
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中图分类法:
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TN601 版次： 5 |
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主要责任者:
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恩云飞 编著 |
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主要责任者:
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来萍 编著 |
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主要责任者:
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李少平 编著 |
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主要团体责任者:
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工业和信息化部电子第五研究所 组编 |
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索书号:
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5 |