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题名:
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大气中子在先进存储器件中引起的软错误 / (日) 中村刚史 ... [等] 著 , 陈伟 ... [等] 译 |
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ISBN:
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978-7-118-10284-0 价格： CNY89.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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XV, 219页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2015.10 |
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内容提要:
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本书分为绪论、大气中子能谱与剂量、大气层辐射实验、中子辐射实验装置、实验数据的评述与讨论、蒙特卡罗模拟方法、模拟结果及其意义等9章, 主要包括: 单粒子效应机制概述、定量评估方法概述、中子探测方法等。 |
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主题词:
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中子 研究 |
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中图分类法:
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O572.34 版次： 5 |
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主要责任者:
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中村刚史 著 |
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次要责任者:
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陈伟 译 |
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索书号:
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5 |