|
题名:
|
X射线荧光光谱分析 / 罗立强, 詹秀春, 李国会编著 , |
|
ISBN:
|
978-7-122-22861-1 价格： CNY68.00 |
|
语种:
|
chi |
|
载体形态:
|
270页, [1] 叶图版 图 25cm |
|
出版发行:
|
出版地： 北京 出版社： 化学工业出版社 出版日期： 2015 |
|
内容提要:
|
本书系统阐述了X射线荧光光谱分析 (XRFS) 基本原理, 介绍了XRFS光谱仪及主要组成部件, 特别是X射线激发源和X射线探测器的工作原理, 强调了新型X射线激发源和探测器如聚焦毛细管X射线透镜、硅漂移探测器和超导探测器等的研究进展和特征性能。对开展XRFS分析所需的定性与定量分析方法、元素间基体校正、化学计量学计算等做了较详细的描述, 评介了各方法的特点、局限及选用原则。在XRFS分析中, 样品制备技术具有特殊的重要性, 因此单独成章, 以使读者对其有深刻认识并能灵活运用。在仪器与维护方面, 分析了不同仪器的特性, 提供了一定的具有共性的仪器校正方法、日常维护知识和故障判断原则。 |
|
主题词:
|
X射线荧光光谱法 光谱分析 |
|
中图分类法:
|
O657.34 版次： 5 |
|
主要责任者:
|
罗立强 编著 |
|
主要责任者:
|
詹秀春 编著 |
|
主要责任者:
|
李国会 编著 |
|
版次:
|
2版 |
|
索书号:
|
3 |