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题名:
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数字系统测试和可测试性设计 / (美) 塞纳拉伯丁·纳瓦比著 , 贺海文，唐威昀译 |
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ISBN:
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978-7-111-50154-1 价格： CNY85.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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XV, 368页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 机械工业出版社 出版日期： 2015 |
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内容提要:
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本书主要论述了数字系统的电路测试以及设计可测试性。本书使用Verilog进行数字电路的设计、测试分析并实现数字系统可测试性。 |
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主题词:
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数字系统 系统测试 |
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中图分类法:
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TP271 版次： 5 |
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主要责任者:
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纳瓦比 著 |
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次要责任者:
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贺海文 译 |
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次要责任者:
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唐威昀 译 |
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附注:
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华章科技 |
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索书号:
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2 |