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题名:
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C/C++程序缺陷与优化 / 于秀山 ... [等] 编著 , |
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ISBN:
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978-7-121-22632-8 价格： CNY49.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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273页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 电子工业出版社 出版日期： 2014 |
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内容提要:
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本书从作者所从事的软件测试项目中精选了与C/C++语言有关的程序缺陷，主要包括编码风格、内存管理、内存泄漏、缓冲区溢出、指针使用、安全等方面。 |
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主题词:
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C语言 程序设计 |
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主题词:
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C++语言 程序设计 |
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中图分类法:
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TP312C 版次： 5 |
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中图分类法:
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TP312C++ 版次： 5 |
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主要责任者:
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于秀山 编著 |
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索书号:
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5 |