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科图分类法:
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TN304-532 版次： |
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中图分类法:
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TN304-532 版次： |
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题名:
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Reliability and materials issues of III-V and II-VI semiconductor optical and electrical devices and materials II : [ symposium held April 9-13, 2012, San Francisco, California, U.S.A. /] / , |
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出版发行:
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出版地： Warrendale, Pa. : 出版社： Materials Research Society, 出版日期： 2012. |
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载体形态:
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xi, 195 p. : ill. ; 24 cm. |
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主题词:
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Materials Reliability |
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主题词:
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Semiconductors Materials |
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主题词:
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Microelectronics Reliability |
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主要责任者:
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Ueda, Osamu. |
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索书号:
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1 |