中图分类法:
TN304 版次:
著者:
Holt, D. B.
题名:
Extended defects in semiconductors : [ electronic properties, device effects and structures /] / ,
出版发行:
出版地: [S.l.] : 出版社: Cambridge University Press, 出版日期: 2014.
载体形态:
644 p. ; 24 cm.
主题词:
Semiconductors Defects.
主要责任者:
Yacobi, B. G.
索书号:
1