中图分类法:
TN302-532 版次:
题名:
Si front-end processing : [ physics and technology of dopant-defect interactions II : symposium held April 24-27,2000, San Francisco, California, USA /] / ,
出版发行:
出版地: Cambridge : 出版社: Cambridge University Press, 出版日期: 2014.
载体形态:
438 p. : ill. ; 24 cm.
主题词:
Semiconductors Design and construction
主题词:
Semiconductor doping
主题词:
Silicon
主题词:
Semiconductors Defects
主要责任者:
Agarwal, Aditya.
索书号:
1