中图分类法:
TN47-532 版次:
题名:
Gate stack and silicide issues in silicon processing [ symposium held April 25-27, 2000, San Francisco, California, U.S.A.] / ,
出版发行:
出版地: Cambridge 出版社: Cambridge University Press 出版日期: 2014
载体形态:
254 p ill 24 cm
主题词:
Integrated circuits Ultra large scale integration
主题词:
Silicides
主题词:
Gate array circuits
主题词:
Electric leakage
主要责任者:
Clevenger, L. A.
索书号:
1