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中图分类法:
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TN406-532 版次： |
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题名:
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Materials reliability in microelectronics II : [ symposium held April 27-May 1, 1992, San Francisco, California, U.S.A. /] / , |
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出版发行:
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出版地： Cambridge : 出版社： Cambridge University Press, 出版日期： 2014. |
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载体形态:
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344 p. : ill. ; 24 cm. |
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主题词:
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Microelectronics Reliability |
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主题词:
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Microelectronics Materials |
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主题词:
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Electrodiffusion |
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主题词:
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Microstructure |
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主要责任者:
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Thompson, C. V. |
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主要责任者:
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Lloyd, J. R. |
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其它题名:
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Materials reliability in microelectronics 2. |
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其它题名:
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Materials reliability in microelectronics two. |
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索书号:
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0 |