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中图分类法:
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O77-532 版次： |
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题名:
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Advanced photon and particle techniques for the characterization of defects in solids [ symposium held November 27-29, 1984, Boston, Massachusetts, U.S.A.] / , |
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出版发行:
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出版地： Cambridge 出版社： Cambridge University Press 出版日期： 2014 |
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载体形态:
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408 p ill 24 cm |
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主题词:
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Crystals Defects |
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主题词:
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Electron microscopy |
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主题词:
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Proton beams |
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主题词:
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Particle beams |
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主要责任者:
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Roberto, J. B. |
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主要责任者:
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Carpenter, R. W. |
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主要责任者:
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Wittels, M. C. |
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索书号:
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1 |