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题名:
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单板级JTAG测试技术 / 王承, 刘治国编著 , |
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ISBN:
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978-7-118-09986-7 价格： CNY58.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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205页 图 21cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 国防工业出版社 出版日期： 2015 |
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内容提要:
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本书是一本系统论述单板级JTAC测试技术的专著。内容包括: 基于IEEE1149.1标准的边界扫描测试、可测性设计和测试功能及串行测试矢量; 内建自测试和仿真测试; 基于IEEE1687标准额集成电路测试技术发展趋势。 |
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主题词:
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集成电路 测试技术 |
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中图分类法:
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TN407 版次： 5 |
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主要责任者:
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王承 编著 |
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主要责任者:
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刘治国 编著 |
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责任者附注:
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王承, 1976生, 江苏扬州人, 博士, 现任职于中兴通讯股份有限公司。刘志国, 1977生, 湖南益阳人, 硕士, 现任职于工业和信息化部电子第五研究所。 |
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索书号:
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5 |