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题名:
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Lattice可编程器件测试技术 / 吴丹, 石坚, 周红著 , |
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ISBN:
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978-7-5612-4253-7 价格： CNY30.00 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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49页 图 23cm |
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出版发行:
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出版地： 西安 出版社： 西北工业大学出版社 出版日期： 2015 |
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内容提要:
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本书从工程实际应用出发，对Lattice可编程器件自动编程与测试的关键技术进行了分析和讨论。主要内容包括针对可编程单元测试的编程资源测试技术、基于可测性设计的逻辑资源测试技术、针对逻辑电路测试向量生成的功能测试生成算法等。 |
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主题词:
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可编程序逻辑器件 测试技术 |
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中图分类法:
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TP332.1 版次： 5 |
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主要责任者:
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吴丹 著 |
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主要责任者:
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石坚 著 |
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主要责任者:
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周红 著 |
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索书号:
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5 |