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题名:
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精密光学元件先进测量与评价 / 程灏波著 , |
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ISBN:
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978-7-03-041717-6 价格： CNY85 |
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语种:
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chi |
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载体形态:
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277页 图 24cm |
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出版发行:
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出版地： 北京 出版社： 科学出版社 出版日期： 2014 |
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内容提要:
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本书主要针对精密光学元件检测原理与技术进行了全面、详细的介绍，并且追踪了最新的科技前沿技术的原理与应用，紧扣实际应用需求，对检测过程中的关键技术进行了研究。首先对光学元件的质量评价标准做了详细的介绍，包括表面面形误差评价标准、亚表面损伤的评价等。 |
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主题词:
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精密光学元件 测量 |
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主题词:
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精密光学元件 评价 |
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中图分类法:
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TH74 版次： 5 |
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主要责任者:
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程灏波 著 |
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索书号:
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4 |